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2026-10-29

文章不饱和型 HAST 试验箱无冷凝抑制与温压湿耦合控制研究

摘要高压加速老化试验（HAST）广泛用于半导体封装、PCB线路、塑封器件的湿气可靠性验证，JESD22-A110标准区分饱和型与不饱和型HAST工况。不饱和HAST核心约束条件为腔内壁、样品表面严禁出现液态冷凝水，一旦凝

2026-10-28

文章大湾区大学连接线工程环境影响评价工作 第一次公示

大湾区大学连接线工程环境影响评价工作 第一次公示